Polowy mikroskop jonowy

Obraz uzyskany w mikroskopie jonowym z anodą wolframową. Układ plamek pokazuje rozmieszczenie pojedynczych atomów na ostrzu. Pierścieniowy układ plamek jest obrazem sześciennej sieci krystalicznej na powierzchni sferycznej[1]
Schemat mikroskopu jonowego

Polowa mikroskopia jonowa (ang. Field ion microscopy (FIM)) – technika analityczna stosowana w nauce o materiałach.

Jest to najstarsza technika, która pozwoliła "zobaczyć" pojedyncze atomy. Technika została wymyślona i zastosowana po raz pierwszy przez Erwina Müllera, który opublikował jej zasady w 1951 r, w czasopiśmie Zeitschrift für Physik.

Za pomocą tej techniki można oglądać atomy na powierzchni specjalnie spreparowanych, cienkich (promień <50 nm) metalowych igieł. Igłę taką umieszcza się w komorze próżniowej, którą napełnia się gazem szlachetnym – neonem lub helem. Igła jest schładzana do bardzo niskiej temperatury (4-100 K), a następnie jest do niej przykładane dodatnie napięcie wielkości od 1000 do 20 000 woltów.

Atomy gazu są jonizowane przez silne pole elektryczne generowane przez igłę (stąd pochodzi nazwa techniki). Utworzone w ten sposób jony dodatnie są odpychane od igły, w przybliżeniu prostopadle do jej powierzchni. Jest to tzw. efekt punktowej projekcji jonów. Jony te trafiają do detektora. Dzięki temu, że masy jonów są relatywnie duże w porównaniu z masą elektronu, na ich ruch niewielki wpływ mają efekty kwantowomechaniczne, a ich prędkości termiczne są mniejsze, co poprawia ostrość obrazu[1]. Obrazy tworzone na podstawie danych z takiego detektora mają na tyle dużą rozdzielczość, że można na nich rozpoznać pojedyncze atomy powierzchni.

Technika ta nadaje się do badania wyłącznie specjalnie preparowanych powierzchni metali. Pokrewnymi i bardziej uniwersalnymi technikami są mikroskop elektronowy (zwłaszcza mikroskop polowy), skaningowy mikroskop tunelowy i mikroskop sił atomowych.

Przypisy

Bibliografia

  • Richard Phillips Feynman, Robert B. Leighton, Matthew Sands: Feynmana wykłady z fizyki. Wyd. III. T. 2. Cz. 1. Warszawa: Państwowe Wydawnictwo Naukowe, 1974.
  • John B. Hudson: Surface Science – An Introduction. BUTTERWORTH-Heinemann, 1992.
  • K. Oura, V. G. Lifshits, A. A. Saranin, A. V. Zotov, M. Katayama: Surface Science – An Introduction. Berlin–Heidelberg: Springer-Verlag, 2003.
Kontrola autorytatywna (Mikroskop elektronowy):
  • LCCN: sh85048109
  • GND: 4153927-8
Encyklopedie internetowe:
  • Britannica: technology/field-ion-microscope